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里博leeb252一體式涂層測厚儀

里博leeb252一體式涂層測厚儀

采用磁性和電渦流兩種測量方法,可無損地檢測磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等)

以及非磁性金屬基體上非導電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)

● 一鍵式操作;

● 一體化設計,體積更小巧。



詳細介紹

【主要功能

    采用磁性和電渦流兩種測量方法,可無損地檢測磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等)。以及非磁性金屬基體上非導電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)

●一鍵式操作;

●一體化設計,體積更小巧。


【技術參數

產品類型

Leeb252

測頭類型

F1/N1

工作原理

磁感應/電渦流

測量范圍

0~1250μm

低限分辨率

1μm

示值誤差

一點校準

±3%H+1

二點校準

±[1~3%)H+1]

測試條件

最小曲率半徑mm

1.5、凹20

最小面積直徑mm

Φ10

基本臨界厚度mm

0.5

工作環境

溫度

0~40℃

濕度

20%~90%

電源

AAA型堿性電池1.5V四節

外形尺寸

150×55.5×23mm(主機)

重量

120g

標準配置

主機、標準試片、基體、AAA型堿性電池


【探頭參數

探頭

F400

F1

F1/90

F10

N1

CN02

工作原理

磁感應

電渦流

測量范圍(um

0-400

0-1250

0-10000

0-1250(銅上鍍鉻0-40um)

10-200

低限分辨力(um)

0.1

0.1

10

0.1

1

示值誤差

一點校準(um)

±[3%H+1]

±[3%H+10]

±[3%H+1.5]

±[3%H+1]

兩點校準(um)

±[(13)%H+0.7]

±[(13)%H+1]

±[(13)%H+10]

±[(13)%H+1.5]

-

測量條件

最小曲率半徑(mm)

1

1.5

平直

10

3

平直

基體最小面積的直徑(mm)

ф3

ф7

ф7

ф40

ф5

ф7

最小臨界厚度(mm)

0.2

0.5

0.5

2

0.3

無限制


【探頭選擇參考

基體與覆蓋層


有機材料等非磁性覆蓋層
(:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等)



非磁性的有色金屬覆蓋層
(:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)



覆蓋層厚度
不超過100μm



覆蓋層厚度
超過100μm



覆蓋層厚度
不超過100μm



覆蓋層厚度
超過100μm



磁性金屬
鐵、鋼



被測面積的直徑
大于30mm



F400 型測頭 0400μm
F1 型測頭 01250μm



F1 型測頭 01250μm
F10 型測頭 010mm



F400 型測頭 0400μm
F1 型測頭 01250μm



F1 型測頭 01250μm
F10 型測頭 010mm



被測面積的直徑
小于30mm


F400 型測頭 0400μm


F400 型測頭 0400μm
F1 型測頭 01250μm


F400 型測頭 0400μm


F400 型測頭 0400μm
F1 型測頭 01250μm



有色金屬
如銅 、鋁 、黃銅 、鋅 、錫



被測面積的直徑
大于5mm


N1 型測頭 01250μm

僅用于銅上鍍鉻N1 型測頭 040μm


非金屬基體
塑料、印刷線路



被測面積的直徑
大于7mm


-

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CN02 型測頭10200μm

圖片欣賞

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